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高低溫沖擊試驗箱

簡要描述:高低溫沖擊試驗箱特別適用于半導體電子器件做溫度破壞測試,主要測試半導體電子器件材料結構在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)沖擊環(huán)境下所能忍受的程度,得以在Z短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。

  • 產(chǎn)品型號
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2024-11-05
  • 訪  問  量5985

詳細介紹

品牌愛佩科技/A-PKJ應用領域電子,交通,綜合
 高低溫沖擊試驗箱特點
  三箱設備區(qū)分為:低溫區(qū)、測高溫區(qū)、試區(qū)三部分,測試產(chǎn)品置于測試區(qū),沖擊時高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進行沖擊, 測試產(chǎn)品為靜態(tài)式。
  進口采用觸控式圖控操作界面,操作筒易。
  沖擊方式應用風路切換方式將溫度導入測試區(qū),做冷熱沖擊測試。
  系統(tǒng)可作自動循環(huán)衙擎或手動選擇性沖擊并可設定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。
  高溫沖擊或低溫沖擊時,zui大時間可達999H,zui大循環(huán)周期可達9999次。
  冷卻采復疊式二元冷凍系統(tǒng),降溫效果快速,冷卻方式為水冷式。
  可以試驗沖擊常溫執(zhí)行滿足標準及試驗方法: GJB150.5 溫度沖擊試驗;GJB360.7溫度沖擊試驗;GB/2423.22 溫度沖擊試驗。
  高低溫沖擊試驗箱特別適用于半導體電子器件做溫度破壞測試,主要測試半導體電子器件材料結構在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)沖擊環(huán)境下所能忍受的程度,得以在短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。本試驗箱根據(jù)試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式,區(qū)別在于試驗方式和內(nèi)部結構不同。三箱式分為蓄冷室,蓄熱室和試驗室,產(chǎn)品在測試時是放置在試驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室,是通過電機帶動提籃運動來實現(xiàn)高低溫的切換,產(chǎn)品放在提籃里,是隨提籃一起移動的。
  技術規(guī)格
  1. 控制器:*LCD液晶顯示觸摸屏控制器;
  2.工作槽溫度范圍:(A:-45),(B:-55),(D:-65)~150℃;
  3.高度槽溫度:60℃ - 200℃;
  4.高低溫沖擊試驗設備低溫槽溫度:(A:-65),(B:-70),(D:-80)~-10℃;
  5.溫度恢復時間:5分鐘以內(nèi);
  6.高低溫曝露時間:30分鐘
  7.內(nèi)箱材質(zhì):霧面不銹鋼SUS304;
  8.外箱材質(zhì):霧面線條處理不銹鋼SUS304;
  9.壓縮機:*全密式壓縮機
  10.電源:AC380V±10%50HZ 三相四線+保護地線。


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